電子元器件的失效大多數是由于體內和表面的各種物理化學變化所引起，它們與溫度有密切的關系。

在高溫貯存操作溫度升高以后，電子元件的化學反應速度大大加快，失效過程也得到加速，使得有缺陷的元器件能及時暴露，予以剔除。

高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機理的器件。

通過高溫貯存以后還可以使元器件的參數性能穩定下來，減少使用中的參數漂移。

作用二：功率電老煉

熱電應力的共同作用能很好地暴露元器件體內和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的重要項目。

各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉，有些產品不能隨便改變條件但可以采用高溫工作方式來提高工作結溫，達到高應力狀態。

作用三：溫度循環

電子產品在使用過程中會遇到不同的環境溫度條件，在熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配性能差的元器件就容易失效。

高低溫試驗箱所執行的溫度循環篩選利用了ji端高溫和ji端低溫間的熱脹冷縮應力，能有效的剔除有熱性能缺陷的產品。